HAST高壓加速老化試驗箱用 途：HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗箱，用于車規(guī)級芯片，IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測試其制品的密封性和老化性能。

應用領域：

 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片……

HAST高壓加速老化試驗箱特 點：

◆ 真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；

◆ 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉300小時；

◆ 干燥設計，試驗終止采真空干燥設計確保測試區(qū)(待測品)的干燥；

◆ 水位保護，透過爐內水位Sensor檢知保護；

◆ 耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k；

HAST高壓加速老化試驗箱滿足標準：

AEC Q101（車規(guī)級芯片）

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

HAST高壓加速老化試驗箱技術規(guī)格：

型號		SEST-S250	SEST-S350	SEST-S450	SEST-S550
工作室尺寸(cm)		? 25×35	? 30×45	? 40×55	? 50×60
性 能	溫度范圍	+100℃～+132℃ / +145℃ / +150℃
	濕度范圍	100%RH飽和蒸汽（不可調）// 65%RH～100%RH非飽和蒸汽（可調）
	溫度均勻度	≤2℃
	濕度均勻度	≤±5%RH
	壓力范圍	1.2～2.89kg(含1atm)
	加壓時間	約45/Min
溫度控制器		中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（SETH/控制軟件）
循環(huán)方式		強制對流循環(huán)方式
結構		標準壓力容器
加濕系統(tǒng)		電熱管
加濕用水		蒸餾水或去離子水（自動補水）
Bias偏壓端子		含偏壓端子（選配訂購時需注明）
加壓方式		1.鍋爐蒸汽加壓；2.外部氣體加壓
材料	外殼材料	冷軋鋼板靜電噴塑(SETH/標準色)
	內壁材料	SUS316不銹鋼板
	保溫材料	玻璃纖維棉
電壓		220V～240V  50/60HZ單相